權(quán)威問答
頭部CT平掃通常能看到部分副鼻竇，但無法完整顯示全部結(jié)構(gòu)。副鼻竇的可見程度主要與掃描范圍、解剖變異、病變性質(zhì)、圖像分辨率等因素有關(guān)。
常規(guī)頭部CT平掃主要聚焦顱腦，掃描下限常止于顱底，可能遺漏部分上頜竇及蝶竇下部結(jié)構(gòu)。
個(gè)體差異如竇腔發(fā)育不良、骨性分隔異常等，可能導(dǎo)致部分副鼻竇在平掃中顯示不清。
黏膜增厚、積液等炎性改變可增強(qiáng)顯影，而早期微小占位或骨壁侵蝕可能被漏診。
層厚過大或偽影干擾會(huì)降低對(duì)篩竇等復(fù)雜結(jié)構(gòu)的辨識(shí)度，薄層掃描能改善顯示效果。
需全面評(píng)估副鼻竇時(shí)應(yīng)選擇鼻竇專用CT掃描，并配合冠狀位重建以提高診斷準(zhǔn)確性。
